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John Wiley & Sons

Credit Risk Measurement: New Approaches to Value- At-Risk and Other Paradigms

Credit Risk Measurement: New Approaches to Value- At-Risk and Other Paradigms

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In den letzten Jahren haben Banken, Wissenschaftler und Kontrollinstanzen viel Zeit und Mühe in die Entwicklung neuer Ansätze zu Risikomessung und -management investiert. Kreditrisikomanagement - aktuell ein brandhei es Thema in der Finanzwelt - ist das Ergebnis einer aggressiven Entwicklung neuer Techniken. Der Autor, Herausgeber von zwei Fachzeitschriften, hat einen aktuellen Überblick über viele dieser neuen Kreditrisikomodelle zusammengestellt, wobei der Schwerpunkt auf der technischen Seite liegt. (07/99)

Author: Anthony Saunders
Publisher: John Wiley & Sons
Published: 06/18/1999
Pages: 240
Binding Type: Hardcover
Weight: 1.13lbs
Size: 9.34h x 6.26w x 0.92d
ISBN: 9780471350842

About the Author
ANTHONY SAUNDERS is the John M. Schiff Professor of Finance and Chair of the Department of Finance at the Stern School of Business at New York University. He holds positions on the Board of Academic Consultants of the Federal Reserve Board of Governors and the Council of Research Advisors for the Federal National Mortgage Association. He is the Editor of the Journal of Banking and Finance and the Journal of Financial Markets, Instruments, and Institutions.

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