Failure Mechanisms in Semiconductor Devices

In dieser zweiten, aktualisierten Auflage identifizieren die Autoren die Ursachen und Mechanismen, die zu Ausf llen von Halbleiterbauelementen f hren. Durch Erkennungsmethoden und Technologien zur Vermeidung von Defekten, die in diesem Buch ausf hrlich beschrieben werden, wird die Zuverl ssigkeit der Bauelemente in der Praxis entscheidend bestimmt.

Author: E. Ajith Amerasekera, Farid N. Najm
Publisher: Wiley
Published: 08/04/1997
Pages: 360
Binding Type: Hardcover
Weight: 1.36lbs
Size: 9.30h x 6.53w x 1.03d
ISBN: 9780471954828

About the Author

E. Ajith Amerasekera is the author of Failure Mechanisms in Semiconductor Devices, 2nd Edition, published by Wiley. Farid N. Najm is the author of Failure Mechanisms in Semiconductor Devices, 2nd Edition, published by Wiley.

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