Integrated Circuit Failure Analysis: A Guide to Preparation Techniques

Funktionstests an integrierten Schaltungen sind fÃ1/4r deren Zuverlässigkeit von herausragender Bedeutung. Erstmals werden in diesem Werk die speziellen Präparationstechniken fÃ1/4r die Fehleranalyse beschrieben. Ausgehend von den theoretischen Grundlagen erläutert der Autor in praxisnahem Stil die verschiedenen Techniken, die das ZurÃ1/4ckverfolgen von Ausfällen ermöglichen.

Author: Friedrich Beck
Publisher: Wiley
Published: 02/04/1998
Pages: 190
Binding Type: Hardcover
Weight: 0.96lbs
Size: 9.35h x 6.15w x 0.60d
ISBN: 9780471974017

About the Author

Friedrich Beck is the author of Integrated Circuit Failure Analysis: A Guide to Preparation Techniques, published by Wiley.

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